齿科

EXPD 2430C
76µm低剂量高分辨率成像
成像处理技术专利, TRUVIEW®ART
单次曝光头颅扫描时间0.5秒
精准测量

低辐射剂量,高诊断精确性

EVS 2430C是一种间接型(CsI)动态x射线探测器,旨在由x射线系统制造商集成到产品中。 EVS 2430C具有低噪声和高速电子移动等高性能,是颅部成像的最佳解决方案。

76μm低剂量高分辨率图像
-卓越的分辨率,以76um最小的像素尺寸发行于市场
- FOCUS(荧光剂CsI升级结构)闪烁体在低剂量条件下也能展现超低噪声和出色的信噪比
- 低剂量条件下>70%DQE值
-各种颅部测量点采集,包括聚焦场、单侧和双侧颞下颌关节、双颌、鼻窦和颌面

专利图像处理技术:TRUVIEW®ART

高级的光散射校正图像重建技术

单次曝光0.5秒

减少患者移动造成的失真&获取清晰的图像

精确测量

EXPD2430C清晰的颅部影像表现,可精确测量颅面与正畸复合体。

参数规格

ModelEVS 2430C
ScintillatorFOCUS CsI
Pixel size76㎛
Pixel matrix3,072 x 3,840
Data InterfaceGigabit Ethernet

 

 

 

  • 产品设计及规格如有更改,恕不另行通知。 
  • 医疗器械类产品,仅限合格的医疗专业人士按照安全和操作指南使用。
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